18 Microscopie de scanare în vid ultraînalt prin STM și AFM
Microscopia de scanare, de tip AFM și STM, este o tehnică de cartografiere la scară nanometrică a proprietăților fizico-chimice ale suprafeței unui material, cum ar fi relieful, conductivitatea electrică, modulul de elasticitate, magnetizarea, compoziția chimică, obținându-se astfel o imagine a modului în care sunt distribuite…
Detalii